武漢大學科研公共服務條件平臺透射電子顯微鏡（JEM-F200）已經(jīng)安裝調(diào)試完畢，即日起對校內(nèi)開放試運行，歡迎校內(nèi)師生預約測試！

一、功能特色

JEM-F200透射電鏡搭載有場發(fā)射電子槍，能夠達到更高的分辨率。自動化測角臺，能夠?qū)崿F(xiàn)自動進出樣品桿。配備有雙探頭超級能譜儀，能夠?qū)崿F(xiàn)快速高精度的EDS分析，搭配STEM模式，可以進行點，線，面的EDS Mapping分析。搭載有Gatan底插Oneview相機，能夠拍攝更加清晰的高分辨圖像。

二、基本參數(shù)

型號：JEM-F200

廠家：日本電子株式會社（JEOL）

電子槍類型：熱場發(fā)射槍

加速電壓：80 – 200 kV

TEM點分辨率：0.23 nm

TEM線分辨率：0.1 nm

STEM分辨率：0.16 nm

放大倍率：MAG模式2000–2M倍

Low MAG模式50–6,000倍

STEM模式100–150M倍

相機：Gatan Oneview相機

能譜：JED2300T超級雙能譜儀（100 mm²雙探頭）

三、應用領(lǐng)域

透射電子顯微鏡已被廣泛用于金屬材料、半導體材料、有機復合材料等的形貌拍攝和結(jié)構(gòu)表征。JEM-F200因具有較高的分辨率，在材料的形貌拍攝、晶體結(jié)構(gòu)表征、樣品元素分析等方面可以發(fā)揮出重要作用。

預約請登錄：http://facility.whu.edu.cn

地點：武漢大學尖端科技樓101C

聯(lián)系人：李老師 13163286278