武漢大學(xué)科研公共服務(wù)條件平臺(tái)場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡（GeminiSEM 500）已經(jīng)安裝調(diào)試完畢，即日起對(duì)校內(nèi)開(kāi)放試運(yùn)行，歡迎校內(nèi)師生預(yù)約測(cè)試！

一、基本參數(shù)

型號(hào)：GeminiSEM 500

廠家：德國(guó)卡爾蔡司（Carl Zeiss）公司

分辨率：0.5 nm @ 15 kV；0.9 nm @ 1 kV；1.0 nm @ 0.5 kV

放大倍數(shù)：50 – 2,000,000 x

加速電壓：0.02 – 30 kV

探針電流：3 pA – 20 nA

樣品室：330 mm (φ) x 270 mm (h)

樣品臺(tái)：5軸優(yōu)中心全自動(dòng)X = 130 mm；Y = 130 mm；Z = 50 mm；T = -4° - 70°；R = 360°；連續(xù)旋轉(zhuǎn)

能譜：Oxford UltimMax 65

二、應(yīng)用領(lǐng)域

場(chǎng)發(fā)射電子顯微鏡（SEM）具有較高分辨率，能進(jìn)行各種固態(tài)樣品表面形貌的二次電子像、背散射電子像觀察及圖像處理，廣泛用于金屬材料、高分子材料、化工原料、地質(zhì)礦物、生物學(xué)、醫(yī)學(xué)、考古和文物鑒定分析。本臺(tái)SEM不僅可以觀察和檢測(cè)非均相有機(jī)材料、無(wú)機(jī)材料及在上述微米、納米級(jí)樣品的表面特征，也可以進(jìn)行元素定量、定性分析，多元素面掃描和線掃描分布測(cè)量。場(chǎng)發(fā)射電子顯微鏡是納米材料粒徑測(cè)試和形貌觀察最有效儀器之一，也是研究材料結(jié)構(gòu)與性能關(guān)系所不可缺少的重要工具。

預(yù)約請(qǐng)登錄：http://gxpt.whu.edu.cn/amc/lims

地點(diǎn)：武漢大學(xué)尖端科技樓101

聯(lián)系人：李老師13277058601  周老師15327286040