武漢大學(xué)科研公共服務(wù)條件平臺透射電子顯微鏡（JEM-F200）已經(jīng)安裝調(diào)試完畢，即日起對校內(nèi)開放試運(yùn)行，歡迎校內(nèi)師生預(yù)約測試！

一、功能特色

JEM-F200透射電鏡搭載有場發(fā)射電子槍，能夠達(dá)到更高的分辨率。自動化測角臺，能夠?qū)崿F(xiàn)自動進(jìn)出樣品桿。配備有雙探頭超級能譜儀，能夠?qū)崿F(xiàn)快速高精度的EDS分析，搭配STEM模式，可以進(jìn)行點(diǎn)，線，面的EDS Mapping分析。搭載有Gatan底插Oneview相機(jī)，能夠拍攝更加清晰的高分辨圖像。

二、基本參數(shù)

型號：JEM-F200

廠家：日本電子株式會社（JEOL）

電子槍類型：熱場發(fā)射槍

加速電壓：80 – 200 kV

TEM點(diǎn)分辨率：0.23 nm

TEM線分辨率：0.1 nm

STEM分辨率：0.16 nm

放大倍率：MAG模式2000–2M倍

Low MAG模式50–6,000倍

STEM模式100–150M倍

相機(jī)：Gatan Oneview相機(jī)

能譜：JED2300T超級雙能譜儀（100 mm²雙探頭）

三、應(yīng)用領(lǐng)域

透射電子顯微鏡已被廣泛用于金屬材料、半導(dǎo)體材料、有機(jī)復(fù)合材料等的形貌拍攝和結(jié)構(gòu)表征。JEM-F200因具有較高的分辨率，在材料的形貌拍攝、晶體結(jié)構(gòu)表征、樣品元素分析等方面可以發(fā)揮出重要作用。

預(yù)約請登錄：http://facility.whu.edu.cn

地點(diǎn)：武漢大學(xué)尖端科技樓101C

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