科研公共服務(wù)條件平臺X射線光電子能譜儀,已經(jīng)安裝調(diào)試完畢,即日起對校內(nèi)開放試運行,歡迎校內(nèi)師生預(yù)約測試!
一、基本參數(shù)
型號:ESCALAB Xi+
廠家:賽默飛世爾科技(Thermo Fisher Scientific)
單色Al Ka大面積XPS
能量分辨率(eV) 靈敏度(cps)
≤0.5 600000
≤0.6 1500000
≤1.0 3500000
最佳空間分辨率優(yōu)于20 um
成像XPS空間分辨率優(yōu)于3 um
雙陽極Mg Ka XPS
能量分辨率(eV) 靈敏度(cps)
≤0.8 650000
≤1.0 7000000
≤1.35 13000000
紫外光電子能譜(UPS)
費米邊分辨率:100 meV 靈敏度:1000000 cps
二、應(yīng)用領(lǐng)域
XPS是一種應(yīng)用廣泛的表面分析方法,可對周期表中除H、He外的所有元素進行定性、定量和價態(tài)分析;結(jié)合離子刻蝕可進行片狀或薄膜材料的深度分析;UPS可分析導(dǎo)電樣品的價帶結(jié)構(gòu),進行功函數(shù)的測量等。儀器由具備單色化XPS、平行成像XPS、離子散射譜ISS、反射電子能量損失譜REELS、紫外光電子譜UPS、ARXPS分析的主機和真空鍍膜腔室、光催化反應(yīng)室、惰性氣體傳輸及真空互聯(lián)系統(tǒng)等組成。電子能譜在納米材料、高分子材料、材料的腐蝕與防護、各類功能薄膜的機理研究、催化劑研究與失效等方面具有不可替代的作用,在化學(xué)、化工、物理、新材料、電子工業(yè)、能源、冶金、生物醫(yī)學(xué)和環(huán)境科學(xué)中應(yīng)用廣泛。
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地點:武漢大學(xué)尖端科技樓105B
聯(lián)系人:吳老師15005601152